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能量色散X射線分析—般指X射線熒光光譜剖析，使用初級(jí)X射線光子或其他微觀離子激起待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光(次級(jí)X射線)而進(jìn)行物質(zhì)成分剖析和化學(xué)態(tài)研討的辦法。按激起、色散和勘探辦法的不同，分為X射線光譜法(波長(zhǎng)色散)和X射線能譜法(能量色散)。根據(jù)色散方式不同，X射線熒光剖析儀相應(yīng)分為X射線熒光光譜儀(波長(zhǎng)色散)和X射線熒光能譜儀(能量色散)。能量色散X射線分析是確認(rèn)物質(zhì)中微量元素的品種和含量的一種辦法，又稱X射線次級(jí)發(fā)射光譜剖析，是使用原級(jí)X射線光子或其它微觀粒子激起待...

紫外分光光度計(jì)廣泛應(yīng)用于食品、藥品、電力、生物研究、教學(xué)科研、化學(xué)化工、質(zhì)量監(jiān)督、水質(zhì)環(huán)保和商檢等各大領(lǐng)域。紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)，工作原理如下：由于分子中的某些基團(tuán)吸收了紫外可見(jiàn)輻射光后，發(fā)生了電子能級(jí)躍遷而產(chǎn)生的吸收光譜。由于各種物質(zhì)具有各自不同的分子、原子和不同的分子空間結(jié)構(gòu)，其吸收光能量的情況也就不會(huì)相同，因此，每種物質(zhì)就有其*的、固定的吸收光譜曲線，根據(jù)這一特性，可對(duì)物質(zhì)進(jìn)行定性分析。由于物質(zhì)濃度的不同，吸收光譜上的某些特征波長(zhǎng)處的吸光度也不相同，從而通過(guò)對(duì)物質(zhì)吸光度或...

電位滴定法是在滴定過(guò)程中通過(guò)測(cè)量電位變化以確定滴定終點(diǎn)的方法，和直接電位法相比，電位滴定法不需要準(zhǔn)確的測(cè)量電極電位值，因此，溫度、液體接界電位的影響并不重要，其準(zhǔn)確度優(yōu)于直接電位法，普通滴定法是依靠指示劑顏色變化來(lái)指示滴定終點(diǎn)，如果待測(cè)溶液有顏色或渾濁時(shí)，終點(diǎn)的指示就比較困難，或者根本找不到合適的指示劑。電位滴定法是靠電極電位的突躍來(lái)指示滴定終點(diǎn)。在滴定到達(dá)終點(diǎn)前后，滴液中的待測(cè)離子濃度往往連續(xù)變化n個(gè)數(shù)量級(jí)，引起電位的突躍，被測(cè)成分的含量仍然通過(guò)消耗滴定劑的量來(lái)計(jì)算。使用不...

EDX-LE是一款于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。配備無(wú)需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測(cè)器）檢測(cè)器，因此在實(shí)現(xiàn)降低運(yùn)作成本和更易維護(hù)的同時(shí)，以維持高可信性分析和進(jìn)一步提高操作性達(dá)到自動(dòng)化分析為目標(biāo)。根據(jù)不同樣品從開(kāi)始測(cè)試到得到結(jié)果所需測(cè)試時(shí)間基本上可在1分鐘內(nèi)完成，所以*可以應(yīng)對(duì)RoHS法規(guī)中所限制的有害元素的篩選分析。另外，最近幾年在眾多企業(yè)中實(shí)施的自行檢測(cè)有害元素Cl的檢測(cè)分析，該款裝置也可以通過(guò)篩選分析簡(jiǎn)單的檢測(cè)出來(lái)。同時(shí)推薦該裝置...

TMA技術(shù)用于測(cè)量固體（包括園片、薄膜、粒狀、纖維）液體和凝膠在力作用下的形變性能常用的負(fù)荷方式有壓縮、針入、拉伸、彎曲等。探頭由固定在其上面的懸臂梁和螺旋彈簧支撐，通過(guò)加馬力馬達(dá)對(duì)試樣施加載荷。當(dāng)試樣長(zhǎng)度（即試樣管和探頭的相對(duì)位置）發(fā)生變化時(shí)，差動(dòng)變壓器檢測(cè)到此變化，則連同溫度、應(yīng)力和應(yīng)變數(shù)據(jù)，由TMA中央處理機(jī)收集后送到TMA工作站進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。熱機(jī)械分析儀的特性：1.使用了新型的高精度、低漂移的位移傳感器。由于高準(zhǔn)確度數(shù)字位移傳感器的使用，TMA-60/60H的測(cè)量準(zhǔn)確...

EDX-7000/8000能量色散X射線分析是檢測(cè)每個(gè)元素X射線特征波長(zhǎng)的X射線量進(jìn)行定量分析。一、什么是X射線熒光光譜儀？EDX-7000/8000能量色散X射線分析是一種剖析技術(shù)，可用于確認(rèn)各種樣品類型（包括固體，液體，漿液和散粉）的化學(xué)成分。X射線熒光也用于確認(rèn)層和涂層的厚度和組成。二、X射線熒光光譜儀背面的原理X射線熒光光譜儀是一種原子發(fā)射辦法，在這方面與光發(fā)射光譜，ICP和中子活化剖析（γ光譜）相似。X射線管經(jīng)過(guò)發(fā)生入射X射線（一次X射線），來(lái)激起被測(cè)樣品。受激起的...

等離子體發(fā)射光譜儀擁有百萬(wàn)像素CCD真正的二維全譜數(shù)據(jù)獲取，無(wú)需再次測(cè)定樣品即可實(shí)現(xiàn)事后元素及波長(zhǎng)的追加和更改。分析助手功能內(nèi)置含11萬(wàn)條譜線的光譜干擾數(shù)據(jù)庫(kù)，可自動(dòng)分析選擇*譜線，使條件優(yōu)化更簡(jiǎn)單，樣品分析更高效。需要經(jīng)常進(jìn)行除塵。特別是計(jì)算機(jī)、電子控制電路、高頻發(fā)生器、顯示器、打印機(jī)、磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器等，定期拆卸或打開(kāi)，用小毛刷清掃，并同時(shí)使用吸塵器將各個(gè)部分的積塵吸除。對(duì)光電倍增管負(fù)高壓電源線、及計(jì)算機(jī)顯示器的高壓線及接頭，還要用紗布沾上少許*小心的抹除積炭和灰塵。磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器...